高反光表面
SpecMeas3D5系列3.5D测量系统
针对高反光镜面物体检测难题,搭载高对比度光源和高速相机的相位偏折测量系统,通过先进的图像合成算法,可对屏幕、玻璃、薄膜、漆面等高反表面同时进行3D尺寸测量和3.5D缺陷成像
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无惧高反光
搭载高亮高对比度可编程光源
兼容曲面
对平面和曲面材质均可进行高精度测量
超高分辨率
全球领先的超高分辨率及硬件计算
高光泽表面轻松测量成像
采用相位偏折原理实现对高反镜面物体的测量,可输出多种模态数据,包括点云图、高度图、斜率图、曲率图、反射率图
同步捕捉细微瑕疵
通过先进的图像合成算法,可对屏幕、玻璃、薄膜、漆面等高反表面同时进行3.5D缺陷成像
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